论文摘要：电路设计中的测试性分析与测点优化方法研究

       随着电子产品集成度提高，电路系统越来越复杂，客观上对其自身的测试性提出了更高要求。一方面，新型电路系统在开发与设计中更加关注状态监控和健康管理方面的要求，而以往仅以故障诊断为目的获取的测试信息已无法满足要求，因此需要更加合理的测点选择；另一方面，传统的单目标测点优选方法仅考虑了故障的检测率和隔离率，所选测点集合不能保证最优。因此，必须找到一种新的方法和途径来解决上述问题。本文针对复杂电路采用基于多信号模型的系统测试性分析，并对测点优选方法进行了较为系统的研究。论文的主要研究工作有：

1. 电路系统多信号建模方法研究。针对复杂电路直接建模难度大、故障与测试信息依赖关系分析较为困难的实际，本文采用了基于结构抽象和基于行为抽象的有向图分层建模方法，大大降低了复杂电路建模的难度及测试性分析的复杂度，并为电路系统的测试性分析与测点优选奠定了基础。

2. 基于故障—测试相关性矩阵的测点优选方法研究。该方法将测点选择与矩阵分析相结合，按照先选择故障检测用测点，尔后选择故障隔离用测点的顺序，给出了最优测点选取的步骤和流程。同时考虑到环境因素、测试条件及手段等对测试结果的影响，提出了针对测试结果不确定问题的测点优选方法，并给出了最优测试诊断顺序。

3. 基于多目标遗传算法的测点优选方法研究。基于故障—测试相关性矩阵的测点优选方法中，测点选取的因素较为单一，而实际上测点选择受到费用因素、可靠性等多种约束和限制。因此，本文以多目标优化理论为基础，结合遗传算法在多目标问题求解中的优势，采用了基于多目标遗传算法进行测点优选的方法。该方法能够更好地达到测点优选的目的。

4. 基于多信号模型的测试性分析研究。针对数字模拟混合电路的复杂性，建立了基于多信号模型的测试性分析方法，并给出了相应的评价指标。通过实例分析和测试性评价指标的计算，验证了本文提出的分层建模方法在复杂电路测试性建模中的优势和基于多目标遗传算法进行测点优选的准确性。

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